Eurofins Materials Testing Servicesは1978年にシリコンバレーでSIMS分析の先駆者として誕生して以来、TEM分析をはじめとする高度なマテリアルサイエンス・エレクトロニクス分野の材料分析をグローバルに展開し、半導体など最先端ハイテク産業のイノベーションを支え続けています。

Core Materials Testing Services

i001b

「Smart CHART」は、SIMSやGDMS等、各種手法の分析領域と検出下限の相関が一目で把握可能です。最適な分析手法選定をサポートします。

i001c

弊社は半導体・高純度材料業界をはじめとして世界最高水準のSIMS、TEM、GDMSサービスを中心に100種類以上の分析・評価解析サービスを展開しています。

火曜日, 01/09/2026

第87回応用物理学会秋季学術講演会 ~JSAP EXPO Autumn 2026~ ブース出展のご案内 ニュース

この度、第87回応用物理学会秋季学術講演会|JSAP EXPO Autumn 2026 に出展します。ブースでは材料分析には欠かせない、TEM・SIMS分析技術のご相談を承っております。

月曜日, 24/08/2026

【ユーロフィン x ブルカー 共催】半導体デバイスの信頼性評価と故障解析の最前線 ~根本原因究明からAFM・X線による詳細解析まで~のご案内 ニュース

この度、ユーロフィンFQL/EAGとブルカージャパンの共催により、「半導体デバイスの信頼性評価と故障解析の最前線」をテーマにしたオンラインセミナーを開催いたします。AI向け半導体やパワーデバイスなどの高性能化に伴い、重要性が高まる信頼性評価や分析・解析の最新技術と実践事例を詳しく解説します。

火曜日, 31/03/2026

【重要】サンプル発送先住所の変更(移転)のお知らせ ニュース

ユーロフィンEAGはラボ移転に伴い、2026年4月6日よりサンプル送付先を東京都府中市へ変更いたします。半導体等の高度な受託分析を円滑に進めるため、4月6日以降の到着分は新住所(〒183-0046 府中市西原町1-11-4)へ発送をお願いします。詳細は弊社サイトをご確認ください。

近くの拠点を探す

フィルターをクリア
フィルターをリセット
地図を準備しています...

Materials Testing Services

各種半導体・高純度材料の分析や評価でお困りではありませんか?

「どの分析手法が最適かわからない」「費用感や納期を急ぎで知りたい」といったご相談から、社内向けの個別技術セミナー開催のご要望まで、専門スタッフが迅速に対応いたします。

材料分析には欠かせないTEM、SIMS、GDMS分析をはじめ、各種分析のプロフェッショナルがサポートします。些細なことでも、まずはお気軽にお問い合わせください。