材料特性評価、表面分析、イメージング、微量成分分析及び故障解析を含む材料試験サービスを提供しています。
バッテリー試験、ATE、ESD/ラッチアップ試験、故障解析及びマイクロエレクトロニクス試験を含むエンジニアリング試験サービスを提供しています。
SMARTチャートは、分析手法を比較する為の簡潔で視覚的なリファレンスを提供します。
ユーロフィンでは、半導体および高純度金属分野の研究開発・品質管理に携わる皆様を対象に、専門特化したウェビナーや技術セミナーを開催しています。
現在、Si半導体からパワーデバイスの主流であるSiC半導体・GaN(窒化ガリウム)さらに次世代を担うGa2O3(酸化ガリウム)やダイヤモンド半導体、GaAs(アルミニウムガリウム砒素)といった化合物半導体まで、最先端材料の評価に不可欠な分析知見を幅広く公開中です。
材料のポテンシャルを最大限に引き出すためには、ナノレベルでの構造制御と不純物管理が欠かせません。本プラットフォームでは、EAGが保有する膨大な分析データを基に、以下の手法の基礎から応用事例までを網羅しています。
「当日の都合がつかなかった」「チーム内で技術情報を共有したい」という声にお応えし、過去に開催した人気ウェビナーのアーカイブ動画視聴および発表資料のダウンロードをご用意いたしました。
基礎理論の再確認から、最新のプロセス改善に直結する事例研究まで、貴社の研究開発スピードの加速と品質管理体制の高度化にぜひお役立てください
| 【ブルカー x ユーロフィンEAG 共催】半導体分析技術オンラインセミナー | 【ブルカー x ユーロフィンEAG 共催】半導体異物解析と材料評価の最前線ウェビナー | |
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| 発表資料のダウンロード | 事前登録受付中 |
| いまさら聞けない! TEM分析の基礎ウェビナー |
なにができる!? TEM分析の応用ウェビナー |
押さえておきたい! TEM & SEM分析のデータ解釈ウェビナー |
いまさら聞けない! 断面SEM分析の基礎ウェビナー |
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| いまさら聞けない! SIMS分析の基礎ウェビナー |
押さえておきたい! SIMS分析のデータ解釈ウェビナー |
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| いまさら聞けない! SEM-CL分析の基礎ウェビナー |
いまさら聞けない! XRDとEBSD、PED分析の使い分けウェビナー |
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| いまさら聞けない! XPS & AES分析の基礎ウェビナー |
いまさら聞けない! RBS分析の基礎ウェビナー |
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| いまさら聞けない! ウエハ金属汚染の基礎ウェビナー |
技術紹介! EAGが所有する各種ウエハ分析 (2インチから12インチまで対応) |
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| いまさら聞けない! バルク不純物分析の基礎ウェビナー |
いまさら聞けない! GDMSとSIMS分析の使い分けウェビナー |
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| エンジニア向け! 故障解析入門ウェビナー 『パワーデバイス編』 |
いまさら聞けない! 半導体デバイスの信頼性評価 基礎ウェビナー |
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