長年の部品評価、故障解析にかかわった経験を活かし、半導体の評価はもちろんのこと、故障解析を受託しています。また、偽造品、模倣品や長期保存品の使用を判断するための真贋判定の一助となる、流通品評価も受託致します。是非お問い合わせください。

お困りごとの例

• 急遽半導体の評価試験をしなくてはならない
• 半導体部品を採用評価するノウハウがない
• 代替品の評価をしたいが人や設備が足りない
• 在庫品、市場品を使用したいが信頼性に不安がある
• 納入された半導体製品が、偽造品なのか正規品なのかわからない
  
  

半導体デバイスの信頼性評価・製品評価

• 高出力デバイスのパワーサイクル試験　
• 高加速寿命試験（HSAT,PCT）
• ハイパワー恒温槽による温度サイクル試験
• 電気特性評価
• 市場流通品（メーカ保証の無い製品）の真贋判定のサポート
• 宇宙用部品スクリーニング（DPA）

半導体デバイスの故障解析

• 良品解析
• 動作不良、断線、短絡、データ化け調査
• IC単体での不具合再現検証
• 樹脂開封（デキャップ）
• LSI回路修正

半導体・電子部品（コンデンサ・抵抗他） | 信頼性評価・環境試験

JISやJEDEC等の標準規格に加えて、長年、培ってきたノウハウを基に、電気・電子のデバイス部品、モジュール部品の信頼性評価、環境試験を受託します。当社はISO17025で認定された試験所です（一部試験にて）。

• 高出力デバイスのパワーサイクル試験　
• 高加速寿命試験（HSAT,PCT）
• ハイパワー恒温槽による温度サイクル試験
• 市場流通品（メーカ保証の無い製品）の真贋判定のサポート
• 宇宙用部品スクリーニング（DPA）　　　　など

信頼性評価・環境試験
 

高加速寿命試験 （HAST試験 / PCT試験 - プレッシャークッカー）

IEC60068－2－66（高温高湿・不飽和加圧水蒸気）に規定された試験を受託しています。他にも、EIAJED4701（不飽和蒸気加圧試験）、JEDEC、EIA/JESD22－A110－A（HAST）で定められている試験を受託致します。

• HAST試験 / PCT試験 - プレッシャークッカー

電子部品などの市場流通品リスク検証

半導体や電子部品の不足、調達の長期化等により、代替品、市場流通品の活用が進んでいます。使用にあたって　

• 不適切な保管による劣化
• 異なるチップを実装した偽造品

など、納入される製品・市場品・在庫品が、正規品でないケース、品質リスク品であるケースも増加しています。当社では分析・解析を通し、お預かりした部品にどういったリスクがあるかを検証し検証結果をご提供いたします。

※本サービスは、過去の経験から品質や信頼性に絡む異常、中古品や偽造品の可能性を念頭に置いた各種観察作業にて、確認された異常個所をコメントさせていただくものになり、正規品であることの保証（真贋判定）は致しかねます点をご了承ください。お客様ご自身で、お預かりしたサンプルの検査の結果、その他お客様がお持ちの情報・状況を総合的に考慮の上、当該部品の使用可否・使用条件等をご判断ください。

• 電子部品などの市場流通品リスク検証
   

半導体・電気部品（コンデンサ・抵抗他） | 故障解析

故障解析の目的は、製品・部品不具合の根本原因を特定し、再発防止と品質改善につなげることにあります。部材／半導体メーカをはじめ、装置開発／設計／製造／品質保証の各部門と共に、数え切れない多くの問題を解決してきた経験豊富なスタッフが、解析はもちろん、あらゆる品質改善に至るまで、お客様のお悩み事を一からバックアップ致します。

• 半導体・電子部品の故障解析

設備紹介 | 半導体・電子部品の信頼性評価・故障解析

信頼性評価試験・環境試験、非破壊解析・破壊解析手法、材料分析手法を、評価解析事例・設備詳細とともにご紹介

• 設備紹介 | 信頼性評価・故障解析 

半導体（LSI、IC）、パワーモジュールの評価・解析のパンフレット

想定される故障モードから適切な信頼性評価・試験内容を抽出しご提案します。故障解析も承ります。（リンク先より各種パンフレットをダウンロードいただけます）

• 半導体（LSI、IC）、パワーモジュールの評価・解析（外部サイト）

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