材料特性評価、表面分析、イメージング、微量成分分析及び故障解析を含む材料試験サービスを提供しています。
バッテリー試験、ATE、ESD/ラッチアップ試験、故障解析及びマイクロエレクトロニクス試験を含むエンジニアリング試験サービスを提供しています。
SMARTチャートは、分析手法を比較する為の簡潔で視覚的なリファレンスを提供します。
5G通信の普及、自動車業界のEV化、某半導体メーカーに代表される米中貿易摩擦の激化によるメーカーの供給停止、新型コロナウイルス感染拡大の影響によるデジタル製品の急増等、様々な社会現象が半導体の需要を高めています。それらに伴い半導体供給リスクの加速が進んでいます。
新規品の採用に加え、既存品・流通品の評価も必要・・・、新規採用・製品評価にかかわる人員は限られてる。こんなお困りごとはありませんか?
ユーロフィンFQLでは、長年の部品評価、故障解析にかかわった経験を活かし、半導体の評価はもちろんのこと、故障解析を受託しています。また、偽造品、模倣品や長期保存品の使用を判断するための真贋判定の一助となる、流通品評価も受託致します。是非お問い合わせください。
JISやJEDEC等の標準規格に加えて、長年、培ってきたノウハウを基に、電気・電子のデバイス部品、モジュール部品の信頼性評価、環境試験を受託します。弊社はISO17025で認定された試験所です(一部試験にて)。
信頼性評価試験・環境試験、非破壊解析・破壊解析手法、材料分析手法を、評価解析事例・設備詳細とともにご紹介
IEC60068-2-66(高温高湿・不飽和加圧水蒸気)に規定された試験を受託しています。他にも、EIAJED4701(不飽和蒸気加圧試験)、JEDEC、EIA/JESD22-A110-A(HAST)で定められている試験を受託致します。
半導体や電子部品の不足、調達の長期化等により、代替品、市場流通品の活用が進んでいます。使用にあたって
など、納入される製品・市場品・在庫品が、正規品でないケース、品質リスク品であるケースも増加しています。ユーロフィンFQLでは分析・解析を通し、お預かりした部品にどういったリスクがあるかを検証し検証結果をご提供いたします。
※本サービスは、過去の経験から品質や信頼性に絡む異常、中古品や偽造品の可能性を念頭に置いた各種観察作業にて、確認された異常個所をコメントさせていただくものになり、正規品であることの保証(真贋判定)は致しかねます点をご了承ください。お客様ご自身で、お預かりしたサンプルの検査の結果、その他お客様がお持ちの情報・状況を総合的に考慮の上、当該部品の使用可否・使用条件等をご判断ください。
想定される故障モードから適切な信頼性評価・試験内容を抽出しご提案します。故障解析も承ります。(リンク先より各種パンフレットをダウンロードいただけます)
半導体(LSI、IC)、パワーモジュールの評価・解析(外部サイト)