材料特性評価、表面分析、イメージング、微量成分分析及び故障解析を含む材料試験サービスを提供しています。
バッテリー試験、ATE、ESD/ラッチアップ試験、故障解析及びマイクロエレクトロニクス試験を含むエンジニアリング試験サービスを提供しています。
SMARTチャートは、分析手法を比較する為の簡潔で視覚的なリファレンスを提供します。
Raman(ラマン分光法分析)は、化学構造の決定と振動分光法を使用した化合物の同定を可能にします。RamanはFTIRよりも優れた空間分解能を持ち、1µmの範囲までのより小さな寸法の分析を可能にします。RamanとFTIRは不明な有機材料の特定に適した分析手法です。
※各分析手法の分析深さはSMART Chartからご覧いただけます。

FTIRでは小さすぎて分析できない(1um)粒子をRamanで分析。SEMだと外観像のみでポリマーとは判別ができないが、Ramanを用いるとスペクトルよりポリマーと判明できます。


基板SiとGeの格子不整合によりひずみが発生している様子を分析。
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結晶シリコン・ポリ結晶シリコン・非晶質シリコンに含まれる微結晶(μc-Si)のRamanスペクトルを表示。Ramanピークのシフトや非対称性、バンド幅は非晶質半導体の結合角の歪みや結晶の特徴を測定するのに効果的。多結晶シリコン中の結晶が25Åより大きくないことを分析。
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