材料特性評価、表面分析、イメージング、微量成分分析及び故障解析を含む材料試験サービスを提供しています。
バッテリー試験、ATE、ESD/ラッチアップ試験、故障解析及びマイクロエレクトロニクス試験を含むエンジニアリング試験サービスを提供しています。
SMARTチャートは、分析手法を比較する為の簡潔で視覚的なリファレンスを提供します。
IC,半導体の故障解析手順の中で、デキャップ(樹脂開封、パッケージ開封)を行うことが頻繁に発生します。
当社では、パッケージ封止樹脂に充填剤が多く含まれている高耐圧・大電流部品のIGBT等、パワーモジュールの樹脂開封(デキャップ)、銅(Cu)ワイヤ、銀(Ag)ワイヤなどを使用したICについて、独自に開発した手法により、ワイヤの溶解・ダメージを抑えたパッケージ開封を承ります。
高耐圧・大電流部品のIGBT等のパワーモジュールには、パッケージ封止樹脂に充填剤が多く含まれているなど、樹脂開封が困難なものがあります。パッケージ樹脂を薬液等により除去し、内部観察を行い、ご要望に応じ開封後の内部部品に対して、評価/解析/分析などを行います。
※事前に開封用トライアルサンプルをご提供いただき開封可否を確認させていただきます(無償)
※IGBT(insulated-gate bipolar transistor 絶縁ゲートバイポーラトランジスタ)
大電力の高速スイッチングが可能な、パワー半導体の一種。
半導体部品の低コスト化に伴い、金(Au)ワイヤから銅(Cu)ワイヤ、銀(Ag)ワイヤへの移行が加速。後の調査に支障をきたさないよう、IC形状や解析内容に合わせダメージを抑えたパッケージ開封手法が求められます。
当社では、独自に開発した手法により、ワイヤの溶解を抑えパッケージ開封を行うことが可能です。
※開封後のワイヤ状態は、樹脂種、ワイヤ種、形状等により程度が異なります。ご希望の解析が可能か是非ご相談ください。
金ワイヤと同等の特性を持ち、ボンディング設備が流用可能な利点がある一方、薬品ダメージが大きい銀ワイヤ。
銀ワイヤへのダメージを抑えたパッケージ開封が可能です。
※日本サイエンティフィック株式会社様の飽和法による
ワイヤ状態

ボンディング状態
既存のパッケージ開封方法では樹脂と共に銅ワイヤも溶解されていることが難点でした。
従来の開封手法(左図:ワイヤ断線、右図:ワイヤ細り)
当社開発手法
回路基板にLSIを搭載したままの状態で開封することが可能です。
レーザーオープナーはチップ極限まで封止樹脂をレーザー加工により除去等を行う装置です。
・メーカー:日本サイエンティフィック
・型格:PL121

レーザーオープナー外観と庫内大きさイメージ
※ご希望の条件で試験可能かどうか、試験条件をご連絡ください。
| 項目 | 仕様 |
|---|---|
| 試料最大寸法 | W397 x D170 x H20mm |
| 加工可能領域 | 最大 50 x 50mm |
| 特徴 |
|
レーザーオープナーによるLSIの開封事例
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対応可能テクノロジ
加工実績


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