电子器件失效分析
确定电子设备故障的根本原因
工程测试服务
无论是连接物联网、引导手术激光，还是为最新的智能手机提供动力，集成电路与微电子技术几乎触及了人类生活的方方面面。在科技领域，创新与持续改进是至关重要的；而能否快速、可靠地进行测试、调试、故障诊断并采取纠正措施，往往决定了一款产品发布是注定失败，还是能成功打造出一个享誉全球的品牌。
典型工程测试服务
Eurofins 材料与工程科学部提供全面的工程测试服务，涵盖电池测试、ATE、ESD 与闩锁效应测试、失效分析以及微电子测试。
ESD与闩锁测试
Eurofins 材料与工程科学（Eurofins Materials & Engineering Sciences）是微电子及半导体芯片领域 ESD（静电放电）和闩锁（Latch-up）测试的行业领军企业。
ATE测试与工程
凭借我们种类丰富的ATE测试设备及经验丰富的团队，我们能够为从首颗芯片调试直至量产发布的全流程提供有力支持。
电池分析
利用材料表征服务开展电池分析，涵盖供应链管理、材料研发及失效分析等领域；配备专用实验室（含干燥室），可安全开启电池，并在其原始状态下对内部组件进行诊断。
老化与可靠性鉴定
可靠性鉴定证明了微电子产品或集成电路（IC）适用于实际应用环境。
FIB 电路编辑与调试
FIB 电路编辑服务允许客户在芯片内部切断导线或添加金属连接。
诉讼支持
诉讼支持服务包括专家证人作证、知识产权以及产品责任支持。
PCB设计与组装
设计用于 Criteria、MCC、Incal、AEHR、ATE、探针卡及 ESD 验证板的可靠性老化板。